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非易失性MRAM磁性隧道结技术

来源:宇芯有限公司 日期:2020-03-05 10:19:00

MRAM或磁性随机存取存储器使用1晶体管–1磁性隧道结(1T-1MTJ)架构,其中铁磁材料的磁性“状态”作为数据存储元素。由于MRAM使用磁性状态进行存储(而不是随时间推移而“泄漏”的电荷),因此MRAM可以提供非常长的数据保留时间(+20年)和无限的耐用性。切换磁极化(Write Cycle)是在电磁隧道结(MTJ)上方和下方的导线中产生脉冲电流的结果(见图1)。


图1:磁性隧道结(MTJ)

电流脉冲带来的相关H场会改变自由层的极化铁磁材料。这种磁性开关不需要原子或电子的位移,这意味着没有与MRAM相关的磨损机制。自由层相对于固定层的磁矩改变了MTJ的阻抗(见图2)。


图2:MRAM磁性隧道结(MTJ)存储元件

阻抗的这种变化表示数据的状态(“1”或“0”)。感应(读取周期)是通过测量MTJ的阻抗来实现的(图3)。


图3:MRAM读写周期

MRAM器件中的读取周期是非破坏性的,并且相对较快(35ns)。读取操作是通过在MTJ两端施加非常低的电压来完成的,从而在部件使用寿命内支持无限的操作。

MRAM选型链接:https://www.wridy.com/list-180-1.html

关键词:MRAM

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